产品介绍

ST5000系列高性能数字混合测试系统

测试机作为半导体测试环节的核心设备,其成本和测试效率直接影响了IC的生产成本。随着半导体芯片在中国生产制造规模的扩大,SiP的大量推广,单颗芯片集成越来越多功能,高性能可扩展的数字混合信号测试机就显得非常重要。

为了满足更高测试性能要求,加速科技推出新一代测试系统ST5000,ST5000测试系统是一款500Mbps/1Gbps的高精度数字混合信号测试机,利用高速分布式通信技术,实现高密度四机头级联,最高支持1024数字通道,128路数字电源,通过灵活的配置满足各种高性能不同类型的芯片测试。单机台支持8个业务板,可以配置各种数字、模拟、数字混合等业务板卡。DFB32H全功能业务板采用先进的FPGA实现,单板集成数字模拟混合信号功能,包含32个250Mbps数字通道,4路DPS,4路100MHz TMU,1路2MSPS AWG,1路1MSPS DGT,全硬件实现Pattern下发和系统调度,无阻塞全并行测试,测试效率极高。ST5000整体采用一体式设计,结构采用Direct Docking连接方式,增加晶圆测试稳定性,为客户提供一种体积小巧、精度高、测试效率高的晶圆级测试设备。

ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具 , 方便客进行测试程序开发。针对工厂批量测试,提供专用的工厂界面,并有丰富的数据记录和分析工具。我司同时提供定制化工厂系统连接方案,方便批量测试和管理。

ST5000 产品优势

01

高效率

高效率

内部集成40Gbps通信总线,双工模式高效数据传输

FPGA硬件实现调度算法,无阻塞全并行测试

广播式向量加载及动态修改,向量加载速度极快

比传统机台效率提升30%以上

02

高性能

高性能

数字IO速率可以高达1Gbps

高速LoadBoard可以支持到17.5Gbps高速接口测试,支持 10GE/MIPI/HDMI/JED204B/LVDS/PCIe/自定义协议

03

可扩展

可扩展

通信架构,模块化设计

多模块级联扩展

Scale out扩展密度,扩展各种新功能模块

04

可定制

可定制

自主知识产权,可依据客户需求定制测试系统

提供软硬件算法定制化

极大节省测试系统成本

提供IC和模组系统级测试方案

应用场景

ST5000系列数模混合信号测试系统可以广泛应用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、

指纹芯片、PMIC、PA、射频开关、滤波器等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。

目标器件

产品关键特性

采用数字混合架构,单板集成数字、模拟混合信号测试功能,支持250/500MHz时钟频率,500Mbps/1Gbps数据速率。

DFB32H支持32路数字通道,每通道含独立PPMU模块,4机台级联,最大支持1024路数字通道1024sites并测。

每通道192 Vector存储深度,高速通信架构,提高并行测试效率。

突破传统Format限制,由用户自定义波形,支持1024组timing set,4 edge可调。

DFB32H支持4路DPS(+8.4V/-3.25V电平设定,驱动电流500mA),电源支持Gang Mode,单机台最高支持32路DPS。

DFB32H支持4路 100MHz TMU,1路2MSPS 16bit AWG , 1路1MSPS 16bit Digitizer。

通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行。

ST-IDE软件提供基于 Eclipse的IDE开发环境,支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具。


系统配置

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置。

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